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LCR/阻抗分析儀
  • 日本日置HIOKI 微電阻計RM3545 日本日置HIOKI 微電阻計RM3545低阻測量中由于不同金屬的連接部分所產生的電壓(熱電動勢)不同,有時會導致測量值不穩定。電阻計RM3545具備對熱電動勢的影響進行補償的“偏置電壓校正(OVC)功能”。適用于對如匯流排焊接部分這類低電阻進行測量。
  • 日本日置HIOKI 微電阻計RM3548 日本日置HIOKI 微電阻計RM3548熱電動勢是指不同金屬的連接部分所產生的電位差(如圖)。具體來說會在測試探頭和被測物接觸的部分,測量儀器和測量線的連接部分產生。熱電動勢的大小根據測量環境的溫度不同而不同,溫差越大則熱電動勢越大。RM3548的正負雙向流過測試電流,使用各自的檢測電壓,具備消除熱...
  • 日本日置HIOKI C測試儀3504-40/50/60 日本日置HIOKI C測試儀3504-40/50/60用BIN的分選接口進行被測物體的測試。
  • 日本日置HIOKI C測試儀3506-10 日本日置HIOKI C測試儀3506-10對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試
  • 日本日置HIOKI LCR測試儀3511-50 日本日置HIOKI LCR測試儀3511-50精巧,5ms快速測量LCR
  • 日本日置HIOKI LCR測試儀IM3523 日本日置HIOKI LCR測試儀IM3523的面板保存功能更,樶多保存60組測量條件,還能保存128個開路/短路補償和線長補償等的補償值。使用面板功能讀取所保存的測量條件。除了手動讀取以外,可以使用外部控制端口控制面板編號的讀取,因此能縮短構筑自動化檢查產線的時間。
  • 日本日置HIOKI LCR測試儀IM3533/33-01 日本日置HIOKI LCR測試儀IM3533/33-01能夠根據指定的頻率范圍和頻率列表,改變*大801點的頻率后自動進行測量。測量結果能夠通過U盤或者接口保存至PC中,使用附件中的LCR應用軟件還能顯示頻率特性列表和圖表。
  • 日本日置HIOKI LCR測試儀IM3536 日本日置HIOKI LCR測試儀IM3536寬測試頻率范圍DC,4Hz~8MHz,LCR測試儀IM3536的測量頻率很廣,可以設置為DC、4 Hz~8 MHz,可以任意改變測試頻率進行測試。
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